The present invention relates to handling misalignment in differential phase contrast imaging. To provide improved handling of misalignment in X-ray imaging systems for differential phase contrast imaging, X-ray source 14, X-ray detector 16, and source grating 18, phase grating 20, and analysis grating 22 An X-ray imaging system 10 for differential phase contrast imaging is provided having a differential phase contrast setup 12 with a grating arrangement having. The source grating is disposed between the X-ray source and the phase grating, and the analysis grating is disposed between the phase grating and the detector. In addition, the system has a processing unit 24 and a measurement system 26 for determining misalignment of at least one grating. The x-ray source and source grating are provided as a fixed x-ray source unit 28. The phase grating, analysis grating, and detector are provided as a fixed X-ray detection unit 30. The measurement system is an optical measurement system configured to determine misalignment between differential phase contrast setup units comprised of an X-ray source unit and an X-ray detection unit. Further, the processing unit is configured to provide a correction signal 34 based on the determined misalignment.本発明は、微分位相コントラストイメージングにおけるミスアライメントの対処に関する。微分位相コントラストイメージングのためのＸ線イメージングシステムにおけるミスアライメントの改良された対処を提供するために、Ｘ線ソース１４、Ｘ線検出器１６、並びに、ソース格子１８、位相格子２０、及び解析格子２２を有する格子アレンジメントを備える微分位相コントラストセットアップ部１２を有する微分位相コントラストイメージングのためのＸ線イメージングシステム１０が提供される。ソース格子は、Ｘ線ソースと位相格子との間に配置され、解析格子は、位相格子と検出器との間に配置される。更に、システムは、処理ユニット２４及び少なくとも１つの格子のミスアライメントを決定するための測定システム２６を有する。Ｘ線ソース及びソース格子は、固定のＸ線ソースユニット２８として提供される。位相格子、解析格子、及び検出器は、固定のＸ線検出ユニット３０として提供される。測定システムは、Ｘ線ソースユニットとＸ線検出ユニットとから成る微分位相コントラストセットアップ部間のミスアライメントを決定するように構成された光学測定システムである。更に、処理ユニットは、決定されたミスアライメントに基づいて補正信号３４を提供するように構成される。
