确定解剖细节的壁厚度的方法及对应的磁共振成像系统
- 专利权人:
- 皇家飞利浦有限公司
- 发明人:
- T·R·福格特,S·魏斯,S·克吕格尔
- 申请号：
- CN201580014661.2
- 公开号：
- CN106102577B
- 申请日:
- 2015.09.03
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2020
- 代理人:
- 摘要：
- 一种用于通过磁共振成像来确定感兴趣对象的解剖细节的壁厚度的方法,包括以下步骤:定义表面表示上的第一位置和第二位置;生成感兴趣线结构;针对多个位置中的每个位置,确定法线方向;确定平均法线方向;确定平均成像平面;确定表示所确定的法线方向的角偏离的量度;基于所确定的量度,确定成像平面;确定所确定的法线方向与所述成像平面的偏离;采集针对所有成像平面的磁共振图像;并且根据在具有与具体位置处的所述法线方向的最低角偏离的该成像平面中采集的所述磁共振图像,确定所述具体位置处的所述壁厚度。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
