一种基于光谱比例扣除的稻谷近红外光谱模型优化方法
- 专利权人:
- 中国科学院合肥物质科学研究院
- 发明人:
- 黄青,王纯阳
- 申请号：
- CN201610802820.1
- 公开号：
- CN106442397A
- 申请日:
- 2016.09.05
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 张景云
- 摘要：
- 本发明提供一种基于光谱比例扣除的稻谷近红外光谱模型优化方法，具体为，多次测定近红外光谱模型中水稻种子的种子、种壳、糙米的近红外光谱，得到种子、种壳和糙米近红外平均光谱；再根据公式：种子平均光谱＝K1×水稻糙米平均光谱+K2×水稻种壳平均光谱，计算糙米、种壳的拟合光谱并得到回归系数K1、K2；根据K1、K2系数大小，可以扣除重合信息的影响，利用拟合光谱建立优化的近红外光谱模型；与现有技术相比，利用拟合光谱能够根据K1、K2系数大小去除水稻种子近红外光谱模型中部分干扰模型的非本质多余信息的影响，因而本发明方法建立的近红外光谱模型具有更好的分析和预测性能。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
