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試験装置の使用効率を最大化し、且つ、試験時間を最小化するために共用試験装置により複数のデータパケット信号トランシーバーを試験する方法
专利权人:
ライトポイント・コーポレイションLitePoint Corporation
发明人:
オルガード、クリスチャン・ヴォルフ
申请号:
JP20160559552
公开号:
JP2017514116(A)
申请日:
2015.03.06
申请国别(地区):
日本
年份:
2017
代理人:
摘要:
共用試験装置により、被試験デバイス(DUT)である複数のデータパケット信号トランシーバー装置を試験する方法。DUTは、所定数のデータパケットが送出されるまで又は所定の時間間隔が経過するまでそれらのデータパケット信号を送出し、それに続いて各DUTは、試験装置に対するデータパケットの送出を開始するために同期要求を待ち受ける。別の方法として、試験装置は、その受信器がデータパケットの受信のために利用可能になったことを検知し、それに続いて試験装置へのデータパケットの送出を開始するために同期要求がそれぞれのDUTに送出される。さらなる別案として、DUTから最初に送出されるデータパケット間の出力レベルをモニターしてそれらが安定化したことを示す時点を検知する。各DUTデータパケット信号出力
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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