An improved moiré deflectometer device (100) for measuring a wavefront aberration of an optical system (110) includes a light source (120) for illuminating a surface area (112) of the optical system, an optical relay system (140) for directing scattered light to a deflectometer component (150) that converts the wavefront into a moiré fringe pattern, a sensor/camera assembly (160) for imaging and displaying the exit pupil (114) of the optical system and the moiré fringe pattern, and a fringe pattern to calculate the wavefront aberration of the optical system, being improved by an illumination source (130) for illuminating the exit pupil (114) of the optical system and an alignment system (180) cooperating with the illumination source in such a manner to consistently and accurately align a measurement axis of the device to the optical system. An associated method is also disclosed.Un dispositif à déflectomètre de moirage amélioré (100) destiné à mesurer une aberration de front dondes dun système optique (110) comprend une source lumineuse (120) pour éclairer une zone de surface (112) du système optique, un système de relais optique (140) destiné à diriger la lumière diffuse sur un composant de déflectomètre (150) qui convertit le front dondes en un motif de frange de moirage, un ensemble de capteur / caméra (160) destiné à former une image et à afficher la pupille de sortie (114) du système optique et le motif de frange de moirage, et le motif de frange pour calculer laberration du front donde du système optique, amélioré grâce à une source déclairage (130) destinée à éclairer la pupille de sortie (114) du système optique et un système dalignement (180) coopérant avec la source dillumination de manière à aligner de façon constante et précise un axe de mesure du dispositif sur le système optique. Un procédé associé est également décrit.
