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粒子密度測定装置およびウエアラブル機器
专利权人:
セイコーエプソン株式会社
发明人:
福岡 正恭
申请号:
JP2017037029
公开号:
JP2018141732A
申请日:
2017.02.28
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
To provide a particle density measuring apparatus capable of miniaturizing and reducing deterioration of detection accuracy, and a wearable apparatus including the particle density measuring apparatus.A light emitting element for emitting light to an object to be measured including moving particles, an optical component for enlarging an irradiated region of the light with respect to the object to be measured, A light receiving element for receiving interference light between Doppler shifted light generated by colliding with the particle and subjected to Doppler shift and the remaining light, a light receiving element for receiving change in frequency of the interference light received by the light receiving element with respect to the light And a detection unit that detects the density of the particles in the device under measurement based on the detection result.BACKGROUND OF THE INVENTION【課題】小型化を図ることができ、かつ、検出精度の低下を低減することができる粒子密度測定装置、および、かかる粒子密度測定装置を備えるウエアラブル機器を提供すること。【解決手段】移動している粒子を含む被測定物に対して光を出射する発光素子と、前記光の前記被測定物に対する照射領域を拡大するための光学部品と、前記光の一部が前記粒子に衝突してドップラーシフトを受けることにより生じたドップラーシフト光と残りの前記光との干渉光を受光する受光素子と、前記受光素子で受光した前記干渉光の前記光に対する周波数の変化に基づいて前記被測定物中の前記粒子の密度を検出する検出部と、を有することを特徴とする粒子密度測定装置。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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