Crystal forms I and II of tasimelteon. Crystal form I: an X-ray powder diffraction spectrum using CuKα radiation and represented by a 2θ angle has diffraction peaks at least at 7.2º±0.2º, 7.9º±0.2º, 10.6º±0.2º, 14.4º±0.2º, 15.9º±0.2º, 17.3º±0.2º, 21.0º±0.2º, 23.2º±0.2º, and 24.4º±0.2º. Crystal form II: an X-ray powder diffraction spectrum using CuKα radiation and represented by a 2θ angle has diffraction peaks at least at 6.8º±0.2º, 12.1º±0.2º, 12.5º±0.2º, 13.1º±0.2º, 13.6º±0.2º, 13.8º±0.2º, 15.8º±0.2º, 17.0º±0.2º, 18.4º±0.2º, 20.8º±0.2º, 24.2º±0.2º, and 24.4º±0.2º. Crystal forms I and II of tasimelteon have advantages of excellent physicochemical property, good stability and solubility, and simple operation for preparation.L'invention concerne des formes cristallines I et II du tasimelteon. Pour la forme cristalline I, un spectre de diffraction des rayons X sur poudre à l'aide d'un rayonnement CuKα et représenté par un angle 2θ présente des pics de diffraction au moins à 7,2º±0,2º, à 7,9º±0,2º, à 10,6º±0,2º, à 14,4º±0,2º, à 15,9º±0,2º, à 17,3º±0,2º, à 21,0º±0,2º, à 23,2º±0,2º, et à 24,4º±0,2º. Pour la forme cristalline II, un spectre de diffraction des rayons X sur poudre à l'aide d'un rayonnement CuKα et représenté par un angle 2θ présente des pics de diffraction au moins à 6,8º±0,2º, à 12,1º±0,2º, à 12,5º±0,2º, à 13,1º±0,2º, à 13,6º±0,2º, à 13,8º±0,2º, à 15,8º±0,2º, à 17,0º±0,2º, à 18,4º±0,2º, à 20,8º±0,2º, à 24,2º±0,2º, et à 24,4º±0,2º. Les formes cristallines I et II du tasimelteon présentent les avantages d'une excellente propriété physico-chimique, d'une bonne stabilité et d'une bonne solubilité, et d'une préparation simple à mettre en œuvre.
