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Apparatus and method for "high resolution" electrical impedance imaging
专利权人:
ワン ウェイ
发明人:
ワン ウェイ
申请号:
JP2016569108
公开号:
JP6602319B2
申请日:
2015.02.16
申请国别(地区):
JP
年份:
2019
代理人:
摘要:
A method of high resolution electrical impedance imaging including using an array of sampling points defined by an electrode frame at a first position, wherein the electrode frame defines a relative displacement of sampling points; and using a different array of sampling points defined by the same electrode frame at a different, second position.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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