A high resolution electrical impedance imaging method comprises the steps of using an array of sampling points (22) defined by an electrode frame (30) at a first location, the electrode frame defining a relative displacement of a sampling point, Using different arrays of sampling points defined by the same electrode frame at the same location.고해상도의 전기 임피던스 영상화 방법은, 제1 위치에서 전극 프레임(30)에 의해 정의되는 샘플링 포인트(22)의 어레이를 사용하는 단계로서 전극 프레임은 샘플링 포인트의 상대적인 변위를 정의하는 단계와, 상이한 제2 위치에서 동일한 전극 프레임에 의해 정의된 샘플링 포인트의 상이한 어레이를 이용하는 단계를 포함한다.
