ZAEPER, KLAUS,ZAEPER, Klaus,VOLLMANN, MARKUS,VOLLMANN, Markus
申请号：
EPEP2013/055369
公开号：
WO2013/143882A1
申请日:
2013.03.15
申请国别(地区):
EP
年份:
2013
代理人:
摘要：
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Messen der Form von zumindest einem Abschnitt eines Objektes durch Projektion eines Musters auf den Abschnitt und Abbilden des rückprojizierten Musters auf einen Sensor. Um mit konstruktiv einfachen Maßnahmen genau den zumindest einen Abschnitt des Objektes messen zu können, wird vorgeschlagen, dass das auf den Sensor rückprojizierte Muster unter Zugrundelegung des plenoptischen Prinzips analysiert wird.The invention relates to a method for measuring the form of at least one section of an object by projecting a pattern onto the section and portraying on a sensor the pattern projected back. In order to accurately measure the at least one section of the object with constructively simple actions, the invention proposes that the pattern projected back onto the sensor is analysed on the basis of the light field principle.L'invention concerne un procédé de mesure de la forme d'au moins une section d'un objet par projection d'un motif sur la section et représentation du motif reprojeté sur un capteur. Le but de l'invention est de permettre la mesure exacte d'une section de l'objet par des conceptions simplifiées. A cet effet, le motif reprojeté sur le capteur est analysé sur la base du principe plénoptique.
