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視機能検査装置及び検査方法
专利权人:
NIKON CORP
发明人:
SHINOMIYA TAKASHI,四宮 孝史,MIYAKE NOBUYUKI,三宅 信行
申请号:
JP2012079229
公开号:
JP2013208190A
申请日:
2012.03.30
申请国别(地区):
JP
年份:
2013
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an examination system examining a visual function including depth perception.SOLUTION: As a first examination, this visual function examination system displays a visual target having a characteristic part and a prescribed thickness such that the characteristic part moves from an inner part to this side or from this side to the inner part relatively to a view line direction of a subject while the characteristic part has a prescribed angle to a perpendicular plane of the view line direction of the subject. As a second examination, the visual function examination system fixes a position of a first visual target, and displays a second visual target such that the second visual target moves from an inner part to this side or from this side to the inner part relatively to the view line direction of the subject.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】 深視力を含む視機能を検査することのできる検査装置を提供する。【解決手段】 第1の検査として、特徴部と所定の厚みとを有する視標を、被験者の視線方向に対して奥から手前に又は手前から奥に、特徴部が被験者の視線方向の垂直面に対して一定の角度を成したまま移動するように表示する。また、第2の検査として、第1の視標の位置を固定し、第2の視標を、被験者の視線方向に対して奥から手前に又は手前から奥に移動するように表示する。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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