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一种磁共振B0场图测量方法
专利权人:
奥泰医疗系统有限责任公司
发明人:
罗海,彭非,周翔,朱高杰,王超,陈梅泞,吕蓓,吴子岳
申请号:
CN201910069305.0
公开号:
CN109793518A
申请日:
2019.24.01
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本发明涉及一种磁共振B0场图测量方法,首先拟合出无相位卷褶的低阶场,接着从原始B0场图中减去拟合出的低阶场,从而分离出无相位卷褶的高阶场;最后将将拟合的低阶场和剩余的高阶场相加,得到无相位卷褶的相位图,由无相位卷褶的相位图计算得到B0场图。本发明能有效去除相位卷褶,利于正确的反映B0场信息;且运算量小,计算效率高。尤其适用于3维B0场图的处理。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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