Die Erfindung betrifft ein Freistrahl-Interferometrie-Verfahren zum Ablichten einer Sequenz von Schnittflächen im Innern eines Licht streuenden Objekts. Das Verfahren ermöglicht dem Nutzer die Wahl eines größeren Bildfeldes und/oder einer höheren Bildauflösung als bislang möglich beim Auftreten von Selbstinterferenz des Probenlichts aus einer streuenden Probe.The invention relates to a free-jet interferometry method for scanning a sequence of cut surfaces in the interior of a light-scattering object. The method allows the user to choose a larger image field and / or a higher image resolution than hitherto possible when self-interference of the sample light from a scattering sample occurs.
