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分光測定装置
专利权人:
KONICA MINOLTA INC
发明人:
TAO SHOICHI,田尾 祥一
申请号:
JP2012251151
公开号:
JP2014098653A
申请日:
2012.11.15
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve increased robustness in calibration of a corresponding relationship between each pixel position in a light receiving surface of a light receiving element and an incident light wavelength.SOLUTION: A spectrometry device includes an arithmetic processing unit. The arithmetic processing unit obtains multiple detection peaks from spectrum data that shows a result of detection performed with calibration light incident on a light receiving surface of a light receiving element. The arithmetic processing unit then extracts at least one detection peak that corresponds to at least one of multiple known peaks of the calibration light, and further extracts at least one known peak that corresponds to the detection peak extracted. Further, the arithmetic processing unit identifies, as a known peak appearance pixel position in the light receiving surface, a pixel position in the light receiving surface at which the detection peak corresponding to the known peak extracted appears.COPYRIGHT: (C)2014,JPO&INPIT【課題】受光素子の受光面の各画素位置と入射光波長との対応関係の校正における堅牢性を向上させること。【解決手段】分光測定装置の演算処理部は、受光素子の受光面に入射した校正光の検出結果を表すスペクトルデータから複数の検出ピークを取得し、校正光における複数の既知ピークの少なくとも1つに対応する少なくとも1つの検出ピークを抽出し、抽出された検出ピークに対応する少なくとも1つの既知ピークを抽出し、抽出された既知ピークに対応する検出ピークが受光面において現れる画素の位置を受光面の既知ピーク出現画素位置として同定する。【選択図】図12
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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