增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法
- 专利权人:
- 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 发明人:
- 王瑄,李中梁,王向朝,南楠,步扬,曾爱军
- 申请号：
- CN201811035526.8
- 公开号：
- CN109157187A
- 申请日:
- 2018.06.09
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 一种增加扫频光学相干层析成像系统成像深度范围的方法。该方法通过高速采集时间等间隔的系统干涉信号,并将该时间等间隔的系统干涉信号标定为波数等间隔的系统干涉信号以增加系统的成像深度范围。高速采集的速率越大,一个光谱范围内的采样点数就越多,系统的成像深度范围也越大。数据处理中,利用在扫频光学相干层析成像系统中引入的光程差为固定值的干涉信号,将高速采集的时间等间隔的系统干涉信号标定为波数等间隔的系统干涉信号。本发明的实现方式结构简单,易于操作,降低了系统成本和复杂性。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
