光学相干层析成像系统全探测深度色散补偿方法
- 专利权人:
- 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 发明人:
- 潘柳华,李中梁,王向朝,南楠,陈艳,王瑄,卢宇,宋思雨
- 申请号：
- CN201610771403.5
- 公开号：
- CN106361279B
- 申请日:
- 2016.30.08
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 一种光学相干层析成像系统全探测深度色散补偿方法,利用迭代算法计算出不同成像深度的色散补偿系数,通过数据拟合,得出色散补偿系数与成像深度的关系表达式,从而计算出样品各深度的色散补偿系数,最终有针对性地对系统中参考臂与样品臂引入的色散失配进行补偿,消除色散的展宽效应,提高系统的纵向分辨率。本发明的优点是计算出系统各成像深度的色散补偿系数,针对不同成像深度进行不同的色散补偿,减弱了单一色散补偿系数对不同成像深度进行补偿而发生的欠补偿或过补偿现象,实现全探测深度的色散补偿。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
