用于单光子发射断层扫描系统的性能检测的平面源模
- 专利权人:
- 卡迪诺科技(北京)有限公司
- 发明人:
- 杜国生
- 申请号：
- CN201220237615.2
- 公开号：
- CN202589549U
- 申请日:
- 2012.05.25
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本实用新型公开了一种用于单光子发射断层扫描系统的性能检测的平面源模(10)，包括第一平面部分(11)、第二平面部分(12)和外围曲面部分(13)，所述的三个部分围合形成用于容纳射线源液体的扁平腔体(15)，其特征在于，所述平面源模(10)还包括：设置在所述外围曲面部分(13)上、与所述扁平腔体(15)连通的液体注入口(14)，和用于密封所述液体注入口(14)的密封塞(16)。在采用该平面源模(10)对两个探头同时进行检测时，到达两个探头的γ光子数基本一致。因此，能够在提高检测工作效率的同时保证检测精度。另外，该平面源模(10)便于射线源液体的灌注和排放。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
