校正量子计数探测器中计数率漂移的方法和X射线系统
- 专利权人:
- 西门子公司
- 发明人:
- S.卡普勒
- 申请号：
- CN201210176072.2
- 公开号：
- CN102809756A
- 申请日:
- 2012.05.31
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种方法、一种电路布置以及一种X射线系统，特别是CT系统（1），其中为了校正具量子计数探测器元件（Dn，m）的电离辐射探测器的计数率漂移，这些探测器元件具有带有明显不同的能量门限（S1，S2，S3）的至少两个计数器（ZS1，ZS2，ZS3）的组合，基于前面确定的计数率彼此的函数依赖关系并且在每个探测器元件使用至少一个计数器（ZS1，ZS2，ZS3）作为参考的情况下对具有不同能量门限的各个其它计数器的计数率进行校正。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
