In Magnetic Particle Imaging (MPI) the reconstruction requires the knowledge of a so called system function. This function describes the relation between spatial position and frequency response and is currently measured once for a scanner set-up and a tracer material. For reasonable resolutions and fields of view the system function becomes quite large, resulting in large acquisition times to obtain reasonable signal-to-noise. However, the system function has a number of properties which can be used to improve signal-to-noise. According to the present invention use is made of the spatial symmetry and/or identical responses at different frequencies for this purpose.磁性粒子撮像（ＭＰＩ）において、再構成は所謂システム関数の知識を必要とする。この関数は、空間位置と周波数応答との間の関係を記述するものであり、現行では、或るスキャナ設定とトレーサ材料とについて一度測定されている。妥当な分解能及び視野のためには、システム関数は非常に大きいものになり、妥当な信号対雑音比を得るのに多大な収集時間をもたらす。しかしながら、システム関数は、信号対雑音比を改善することに使用可能な数多くの特性を有している。本発明によれば、この目的のために、空間的な対称性、及び／又は相異なる周波数で同一の応答が使用される。
