検出限界が改善されたＧＣ−ＴＯＦ ＭＳ

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专利权人:

レコ コーポレイションＬＥＣＯ ＣＯＲＰＯＲＡＴＩＯＮ

发明人:

フェレンチコフ，アナトリー・エヌ

申请号：

JP20160560414

公开号：

JP2017511578(A)

申请日:

2015.03.31

申请国别(地区):

日本

年份:

2017

代理人:

摘要：

ＧＣ−ＭＳ分析の感度、ダイナミックレンジ、および特異性を改善するために、知られているオープンＥＩ源と比較してずっとより高輝度をもたらす電子衝撃イオン化を伴うセミオープン源の改善された特性に基づく新規な機器の各実施形態が開示されている。一実施では、源は、検出限界の改善のため、より高い分解能分析のために多重反射ＴＯＦ分析器と適合するようになる。空間的および時間的な再集束の改善された手法を用いて、ＰＳＤ、ＣＩＤ、およびＳＩＤフラグメンテーションを用いると共に単反射ＴＯＦ分析器またはＭＲ−ＴＯＦ分析器のいずれかを使用する様々なタンデムＴＯＦ−ＴＯＦスペクトロメータを提案する。【選択図】図５

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/