The present disclosure provides a system for measuring a property of a sample comprising: a test strip for collecting the sample； a diagnostic measuring device configured to receive the test strip and measure a concentration of an analyte in the sample received on the test strip； and the diagnostic measuring device further comprising a processor programmed to execute an analyte correction for correcting a measurement of the sample due to one or more interferents, comprising: calculating an interferent impedance measurement including a magnitude measurement and a phase measurement using a difference identity to generate a sinusoidal signal with an amplitude proportional to the phase difference； and adjusting the measurement of the analyte in the sample using that the calculated interferent impedance measurement.La présente invention concerne un système de mesure d'une propriété d'un échantillon comprenant : une bandelette de test pour collecter l'échantillon ； un dispositif de mesure de diagnostic configuré pour recevoir la bandelette de test et mesurer une concentration d'un analyte dans l'échantillon collecté sur la bandelette de test ； et le dispositif de mesure de diagnostic comprenant en outre un processeur programmé pour exécuter une correction d'analyte pour corriger une mesure de l'échantillon en raison d'un ou de plusieurs interférents, comprenant : le calcul d'une mesure d'impédance interférentielle comprenant une mesure de magnitude et une mesure de phase à l'aide d'une identité de différence pour générer un signal sinusoïdal ayant une amplitude proportionnelle à la différence de phase ； et l'ajustement de la mesure de l'analyte dans l'échantillon à l'aide de la mesure d'impédance interférente calculée.
