There is provided a system for measuring a property of a sample that comprises a test strip for collecting the sample； a diagnostic measuring device configured to receive the test strip and measure a concentration of an analyte in the sample received on the test strip； and the diagnostic measuring device further comprising a processor programmed to execute an analyte correction for correcting a measurement of the sample due to one or more interferents, comprising: calculating an interferent impedance measurement including a magnitude measurement and a phase measurement using a switched capacitor accumulator to measure a phase angle； and adjusting the measurement of the analyte in the sample using that the calculated interferent impedance measurement.La présente invention concerne un système pour mesurer une propriété d'un échantillon qui comprend une bandelette de test pour collecter l'échantillon； un dispositif de mesure de diagnostic configuré pour recevoir la bandelette de test et mesurer une concentration d'un analyte dans l'échantillon collecté sur la bandelette de test； et le dispositif de mesure de diagnostic comprenant en outre un processeur programmé pour exécuter une correction d'analyte pour corriger une mesure de l'échantillon en raison d'un ou de plusieurs interférents, comprenant : le calcul d'une mesure d'impédance interférentielle comprenant une mesure de magnitude et une mesure de phase à l'aide d'un accumulateur à condensateur commuté pour mesurer un angle de phase； et l'ajustement de la mesure de l'analyte dans l'échantillon à l'aide de la mesure d'impédance interférente calculée.
