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DISPOSITIF, PROCÉDÉ ET PROGRAMME D'ANALYSE D'IMAGES
专利权人:
SHISEIDO COMPANY, LTD.;株式会社資生堂
发明人:
MASUDA Yuji,舛田勇二,SEKINO Megumi,関野 めぐみ,YOSHIKAWA Hironobu,吉川拓伸,BERENDS David Christopher,べレンズ デイビッド クリストファー,ISNARDI Michael Anthony,イスナルディ マイケル アンソニー,ZHANG Yuzheng,チャン ユーチォン
申请号:
JPJP2019/034708
公开号:
WO2020/050296A1
申请日:
2019.09.04
申请国别(地区):
JP
年份:
2020
代理人:
摘要:
This image analysis device is characterized by comprising: an imaging unit that images a subject; a light emitting unit that emits light towards the subject; a sensor unit that detects the inclination of the imaging unit with respect to the subject; a control unit that, while controlling the light emission of the light emitting unit, causes the imaging unit to capture an image of the subject; and a specifying unit that, on the basis of said inclination and said positional relationship between the imaging unit and the light emitting unit, specifies, in the image, a measurement region separated by a prescribed distance from a reflection region that corresponds to the position where light from the light emitting unit is specularly reflected on the subject.L'invention concerne un dispositif d'analyse d'image pourvu d'une unité d'imagerie qui image un sujet, d'une unité d'émission de lumière qui émet de la lumière vers le sujet, d'une unité de capteur qui détecte l'inclinaison de l'unité d'imagerie par rapport au sujet, une unité de commande qui amène l'unité d'imagerie à capturer une image du sujet tout en commandant l'émission de lumière de l'unité d'émission de lumière, et une unité de spécification qui, sur la base de la relation de position et de l'inclinaison de l'unité d'imagerie et de l'unité d'émission de lumière, spécifie, dans l'image, une région de mesure séparée d'une distance prescrite par rapport à une région de réflexion, qui correspond à la position où la lumière de l'unité d'émission de lumière est réfléchie de manière spéculaire sur le sujet.本発明に係る画像解析装置は、被写体を撮像する撮像部と、前記被写体に向けて発光する発光部と、前記被写体に対する前記撮像部の傾きを検出するセンサ部と、前記発光部の発光を制御しながら前記撮像部に前記被写体の画像を撮像させる制御部と、前記撮像部と前記発光部の位置関係及び前記傾きに基づいて、前記画像の中で前記発光部の光が前記被写体において正反射する位置に対応する反射領域から所定の距離で離間した測定領域を特定する特定部と、を備えることを特徴とする。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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