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ストレス評価装置及び方法
专利权人:
BRAIN FUNCTIONS LABORATORY INC
发明人:
KOBAYASHI YOHEI,小林 洋平,WATANABE YURI,渡邉 ゆり,TANAKA MIEKO,田中 美枝子,KOSUGI YUKIO,小杉 幸夫,MUSHA TOSHIMITSU,武者 利光,ASANO YOSHIHISA,浅野 嘉久
申请号:
JP2016195929
公开号:
JP2018057510A
申请日:
2016.10.03
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a stress measuring device capable of quantitatively evaluating stress by a method in which a burden on a subject is further reduced.SOLUTION: A stress evaluation device for evaluating a stress state of a subject includes: signal acquisition means for acquiring a brain potential signal from one electrode attached to a frontal region of a subject and arithmetic means for calculating a power spectrum from the brain potential signal acquired by the signal acquisition means within a predetermined time, determining an index value for evaluating a stress state by calculating a ratio of a total value of power of each frequency in a first frequency band including the δ wave band to a total value of power of each frequency in a second frequency band including a frequency band higher than the first frequency band, which is different from the first frequency band, and evaluating the stress state of the subject based on the index value and a reference index value which is an index value as a reference set beforehand.SELECTED DRAWING: Figure 1COPYRIGHT: (C)2018,JPO&INPIT【課題】被験者への負担をより低減させた方法により、ストレスを定量的に評価することが可能なストレス測定装置を提供する。【解決手段】本発明は、被験者のストレス状態を評価するためのストレス評価装置であって、被験者の前頭部に取り付けられた1つの電極から脳電位信号を取得する信号取得手段と、信号取得手段により所定時間内において取得された脳電位信号からパワースペクトルを算出し、δ波帯域を含む第1の周波数帯域内の各周波数のパワーの合計値の、該第1の周波数帯域より高い周波数帯域を含み該第1の周波数帯域とは異なる第2の周波数帯域内の各周波数のパワーの合計値に対する比率を計算することによりストレス状態評価のための指標値を決定し、当該指標値と、予め設定された基準となる指標値である基準指標値とに基づいて被験者のストレス状態を評価する演算手段と、を備える。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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