辐射形状滤波器的选择

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专利权人:

西门子公司

发明人:

H-C.贝克尔,T.弗洛尔,B.施米特

申请号：

CN201310491624.3

公开号：

CN103767717B

申请日:

2013.10.18

申请国别(地区):

CN

年份:

2016

代理人:

摘要：

本发明描述了一种用于选择辐射形状滤波器的方法，所述辐射形状滤波器改变成像系统（10）的X射线源（100,100a,100b）的X射线辐射（R,Rˊ）的强度的空间分布和/或光谱，其中采集检查对象（O）的解剖测量数据（T,B），从所述解剖测量数据应当在下一个步骤中借助成像系统（10）进行成像，并且基于采集的检查对象（O）的解剖测量数据（T,B）自动地进行辐射形状滤波器的选择。此外本发明涉及一种成像系统（10），在所述成像系统中在使用按照本发明的方法的条件下进行辐射形状滤波器的选择。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/