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一种快速评价草菇受低温伤害程度的方法
- 专利权人:
- 上海市农业科学院
- 发明人:
- 赵妍,陈明杰,姜威,汪虹,张宝粉
- 申请号：
- CN201310039516.2
- 公开号：
- CN103098649B
- 申请日:
- 2013.01.31
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 黄志达
- 摘要：
- 本发明涉及一种快速评价草菇受低温伤害程度的方法，包括：（1）将活化后的草菇菌株接种到灭菌的PDA培养基上，静置培养3~4天；待菌丝长满平皿后，将其转接到PDY培养液中，然后振荡培养3~4天；（2）将PDY培养液中的菌丝球过滤，低温处理，在各个低温处理时间点分别取菌丝球20~25℃下振荡，测定初始电导率E1，再灭菌，振荡，测定终极电导率E2；根据计算结果即能评价出草菇受低温伤害的程度。本发明操作简便，易于掌握，整个系统的草菇受低温伤害程度鉴定都在可控条件下进行，使得测定数据更加可靠；此方法还可以用于不同草菇菌株间耐低温性的快速判断，能够大大缩短筛选耐低温突变株的育种周期。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
