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GAIT PATHOLOGY DETECTION AND MONITORING SYSTEM, AND METHOD
专利权人:
发明人:
Stephen D. Patek,Matthew M. Engelhard,John Lach,Myla D. Goldman
申请号:
US15764063
公开号:
US20180279914A1
申请日:
2016.09.28
申请国别(地区):
US
年份:
2018
代理人:
摘要:
A gait pathology detection and monitoring system, and method using rotation, scale, and offset invariant dynamic time warping (RSOI-DTW).
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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