A measurement method performed by a computed tomography (CT) system 10 is disclosed. The CT system 10 includes an x-ray detector array consisting of an x-ray source and a photon count edge-on detector, each edge-on detector having a plurality of depth compartments Quot；) <； / RTI >； The method provides a time offset between measurement periods of at least two different detection elements (15) arranged at different depths, the time offset being selected such that at least two measurement periods are at least partially overlapped in time . The control unit 10 for the CT system and the measuring circuit 30 for the CT system 10 are also disclosed. A computer program for the CT system 10 is also disclosed. The present invention provides a higher sampling frequency in the angular direction.전산화 단층촬영(CT) 시스템(10)에 의해 수행되는 측정 방법이 개시된다. CT 시스템(10)은 엑스레이 광원과, 광자 계수 에지-온 검출기로 이루어진 엑스레이 검출기 어레이를 포함하되 각각의 에지-온 검출기는 엑스레이 입사 방향으로 상이한 공간적 위치에 배열되는 다수의 심도 구획부("검출 소자"로도 지칭함)(15)를 구비한다. 상기 방법은 상이한 심도에 배치되는 적어도 두 개의 상이한 검출 소자(15)의 측정 주기 사이에 시간 오프셋을 제공하되 상기 시간 오프셋은 적어도 두 개의 측정 주기가 적어도 부분적으로 시간상 중첩되도록 선택되는 시간 오프셋 측정 기법을 적용하는 것을 포함한다. 또한 CT 시스템용 제어 유닛(10)과 CT 시스템(10)용 측정 회로(30)가 개시된다. CT 시스템(10)용 컴퓨터 프로그램도 개시된다. 본 발명은 각도 방향으로 보다 높은 샘플링 빈도수를 제공한다.
