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X-RAY IMAGING APPARATUS AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME
专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.
发明人:
HAN, Seok Min,KANG, Dong Goo,SUNG, Young Hun,LEE, Jae Hak,CHOI, Ji Young
申请号:
KRKR2014/007388
公开号:
WO2015/020481A1
申请日:
2014.08.08
申请国别(地区):
WO
年份:
2015
代理人:
摘要:
Provided is an X-ray imaging apparatus including: an image generation unit configured to generate an X-ray image based on X-rays transmitted by an object a thickness measurement unit configured to measure thickness information of the object and generate a reference phantom image in which the measured thickness information is indicated and an image separation unit configured to generate a final image obtained by separating a material inside the object from the X-ray image using the reference phantom image.Linvention concerne un appareil dimagerie à rayons X comprenant : une unité de génération dimage configurée pour générer une image de rayons X, sur la base de rayons X transmis par un objet une unité de mesure dépaisseur configurée pour mesurer des informations dépaisseur de lobjet et générer une image fantôme de référence dans laquelle sont indiquées les informations dépaisseur mesurées et une unité de séparation dimage configurée pour générer une image finale obtenue en séparant un matériau à lintérieur de lobjet et limage de rayons X à laide de limage fantôme de référence.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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