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ULTRASONIC INSPECTION APPARATUS, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND ULTRASONIC PROBE
专利权人:
HITACHI LTD;株式会社日立製作所
发明人:
TAKEZAKI TAICHI,竹崎 泰一,HASEGAWA HIROAKI,長谷川 浩章,MACHIDA SHUNTARO,町田 俊太郎
申请号:
JP2018113939
公开号:
JP2019216397A
申请日:
2018.06.14
申请国别(地区):
JP
年份:
2019
代理人:
摘要:
To improve performance of an ultrasonic inspection apparatus including a capacitance detection type ultrasonic sensor that has a gap between electrodes and vibrates a membrane.SOLUTION: A circular semiconductor chip CHP including a cell array in which a plurality of cells, each of which is a capacitance type device with a gap between upper and lower electrodes, are laid out in a circle in plan view and a thermal stress film 6, covering a back surface of the semiconductor chip CHP, made of a material having a larger thermal expansion coefficient than silicon are mounted on a chip holder CH having a recess 40 on an upper surface. Since the thermal stress film 6 has a larger compressive stress than the semiconductor chip CHP, a center of the semiconductor chip CHP is curved downward and is bonded to a surface of the recess 40.SELECTED DRAWING: Figure 2【課題】電極間に空隙を有し、メンブレンを振動させる容量検出型の超音波センサを含む超音波検査装置の性能を向上させる。【解決手段】上下の電極間に空隙を有する静電容量型デバイスであるセルを平面視の円内に複数敷き詰めたセルアレイを備えた円形の半導体チップCHPと、半導体チップCHPの裏面を覆い、シリコンよりも熱膨張係数が大きい材料から成る熱応力膜6とを、上面に凹部40を有するチップホルダCH上に搭載する。熱応力膜6は半導体チップCHPよりも圧縮応力が大きいため半導体チップCHPは中央部が下方向に湾曲し、凹部40の表面に接着されている。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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