减少X射线成像检查中使用的放射剂量的方法及CT系统
- 专利权人:
- 西门子公司
- 发明人:
- H.布鲁德,T.弗洛尔,R.劳佩克
- 申请号：
- CN201110362931.2
- 公开号：
- CN102525531A
- 申请日:
- 2011.11.16
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种方法以及一种X射线系统，特别是一种CT系统(C1)，其中，为了减少在成像X射线检查中使用的放射剂量，对所拍摄的每个像素确定在被检查的像素周围给定距离内的可能存在的结构的结构信息，并在每个被检查的像素上应用取决于方向的低通滤波器，该低通滤波器的空间作用范围小于所述给定距离，并且，通过该低通滤波器的取决于方向的权重来考虑可能存在的结构的形态学信息。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
