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복수개의 엑스레이의 초점을 획득하기 위한 방법 및 장치
专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.
发明人:
LEE, JAE SUNG,이재성,KIM, KI YEO,김기여,LEE, JA WOO,이자우,CHO, MIN KOOK,조민국,CHOI, BYUNG SUN,최병선
申请号:
KR1020110141725
公开号:
KR1020130073727A
申请日:
2011.12.23
申请国别(地区):
KR
年份:
2013
代理人:
摘要:
PURPOSE: A method and an apparatus for obtaining the focus of a plurality of X-ray are provided to use many focus of the X-ray beam, thereby increasing the resolution of an image.CONSTITUTION: An electron beam is irradiated from the cathode to the anode (310). The X-ray is irradiated to an object by the electronic beam (320). The X-ray is generated from the anode. The rotating speed of the mobile anode is controlled (330). At least one focus is obtained based on the rotating speed and inclined surface interval of the anode (340).COPYRIGHT KIPO 2013[Reference numerals] (310) Irradiate an electron beam from the cathode to the anode (320) Irradiate the X-ray to an object by the electronic beam (330) Control the rotating speed of the mobile anode (340) Obtain at least one focus based on the rotating speed and inclined surface interval of the anode (AA) Start (BB) End자기장 생성 장치의 캐소드로부터 이동 가능한 애노드를 향하여 전자 빔을 조사하고, 조사된 전자 빔에 의하여 애노드로부터 생성되는 엑스레이를 대상체로 조사하는 복수개의 엑스레이의 초점을 획득하기 위한 방법이 개시된다. 여기서, 애노드는 경사면을 포함하고 경사면의 일부가 돌출될 수 있으며, 조사되는 전자 빔과 경사면에 기초하여 엑스레이에 대한 복수의 초점이 획득될 수 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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