X射线成像设备的自动曝光参数的计算方法及装置
- 专利权人:
- 北京友通上昊科技有限公司
- 发明人:
- 邹鲁民
- 申请号：
- CN201910617645.2
- 公开号：
- CN110269635A
- 申请日:
- 2019.09.07
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2019
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供了一种X射线成像设备的自动曝光参数的计算方法及装置,该方法包括:对处理对象的拍摄部位进行第一次预曝光,获取第一图像以及所述第一图像的第一ROI区信息;根据所述第一ROI区信息,对所述拍摄部位进行第二次预曝光,获取第二图像;对所述第一图像和第二图像进行能量减影,确定特征图像,以确定部位类别;根据所述第一ROI区信息,并对所述拍摄部位进行主曝光,确定第三图像;根据所述部位类别、特征图像和第一ROI区信息,确定所述第三图像的处理参数。本发明基于实际图像内容的计算,获取曝光参数,对于各种类别图像均可获得较好的处理结果,能有效提高曝光参数的准确性。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
