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数字X射线乳腺摄影系统中曝光指数及偏差指数计算方法
专利权人:
深圳艾砾拓科技有限公司
发明人:
孙桂香,王桂芳,任小秋,辛忠英
申请号:
CN201710367643.3
公开号:
CN107049345A
申请日:
2017.05.23
申请国别(地区):
CN
年份:
2017
代理人:
摘要:
本发明提供了一种数字X射线乳腺摄影系统中曝光指数计算方法,所述方法首先通过计算出剂量仪的剂量值与每张照片的灰度均匀值的线性系数,然后计算出照片中乳腺腺体区域的感兴趣值,根据所述感兴趣值和线性系数来计算出曝光指数,使得计算出的曝光指数准确,从而方便医生调整曝光参数,获取高质量的图像,降低误诊率。本发明还提供了一种数字X射线乳腺摄影系统中偏差指数计算方法。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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