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SIGNAL FEATURE EXTRACTION METHOD AND SIGNAL FEATURE EXTRACTION APPARATUS
专利权人:
SAMSUNG ELECTRONICS CO.; LTD.;SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.;삼성전자주식회사
发明人:
PARK, CHANG SOON,박창순,KWON, UI KUN,권의근,KIM, SANG JOON,김상준,YOON, SEUNG KEUN,윤승근,CHOI, CHANG MOK,최창목,PARK, CHANG SOONKR,KWON, UI KUNKR,KIM, SANG JOONKR,YOON, SEUNG KEUNKR,CHOI, CHANG MOKKR
申请号:
KR1020150156348
公开号:
KR1020170053887A
申请日:
2015.11.09
申请国别(地区):
KR
年份:
2017
代理人:
摘要:
Disclosed are a signal feature extraction method and an apparatus thereof. A signal feature extraction apparatus according to an exemplary embodiment may estimate a plurality of element signals forming an input signal using a signal model determined by parameters, and extract a signal feature from the estimated element signals.신호 특징 추출 방법 및 장치가 개시된다. 일 실시예에 따른 신호 특징 추출 장치는 파라미터들에 의해 결정되는 신호 모델을 이용하여 입력 신호를 형성하는 복수의 엘리먼트 신호들을 추정하고, 추정된 엘리먼트 신호들로부터 신호 특징을 추출할 수 있다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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