一种射线成像的探测器余辉校正方法
- 专利权人:
- 西北工业大学
- 发明人:
- 黄魁东,张定华,张华
- 申请号：
- CN201310307166.3
- 公开号：
- CN103405241B
- 申请日:
- 2013.07.21
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2015
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明提供了一种射线成像的探测器余辉校正方法，首先根据检测对象，选定扫描所需的射线源电压及电流、探测器工作模式及采集速度，获取射线成像系统当前扫描参数下探测器的余辉衰减模型，然后进行正式扫描，获取检测对象的一组投影图像，最后根据所得余辉衰减模型进行快速余辉校正计算。本发明无需知道探测器材料各种衰减成分的时间常数，仅在正式扫描前通过简便的余辉建模扫描即可获取射线成像系统当前扫描参数下探测器的余辉衰减模型，非常便于在实际射线成像系统中实施，而且该模型具有一定的可重复利用性。另外，基于灰度-余辉对应表的余辉校正大大减少了计算量，不会对正常检测的效率产生明显影响。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
