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分析装置、及び、分析方法
专利权人:
パナソニック株式会社
发明人:
楠亀 弘一,伊藤 達男,堀中 博道
申请号:
JP2012547368
公开号:
JPWO2013008447A1
申请日:
2012.07.09
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
A analyzer for analyzing the state of the sample (1), and cooling the specimen By doing to, the temperature unit adjustment to lower the temperature of the specimen and (1c), and by irradiating light to the specimen, temperature control unit and the light source for heating at least a portion of the cooled sample by (1c) (1a) , and a first temperature measuring unit for measuring the temperature change of the sample by heating the light source (1a) and (1b), analyzing unit for analyzing the state of the sample based on the temperature change of the specimen and (1d). For example, the first temperature measuring unit (1b) transmits an ultrasonic pulse to the sample, an ultrasonic probe for receiving a reflected wave from the sample ultrasonic pulse (102a), the ultrasonic probe (102a) is received measuring the temperature of the sample based on the reflected wave signal.検体の状態を分析する分析装置(1)であって、検体を冷却することで、検体の温度を低下させる調温部(1c)と、検体に光を照射することで、調温部(1c)により冷却された検体の少なくとも一部を加熱する光源(1a)と、光源(1a)の加熱による検体の温度変化を計測する第一温度計測部(1b)と、検体の温度変化に基づいて検体の状態を分析する分析部(1d)とを備える。例えば、第一温度計測部(1b)は、検体に超音波パルスを送信し、超音波パルスの検体からの反射波を受信する超音波プローブ(102a)と、超音波プローブ(102a)が受信した反射波の信号に基づいて検体の温度を計測する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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