A property of a treatment beam is controlled during a scanning period. A portion of a region is exposed to an imaging x-ray beam during a scanning period, the imaging x-ray beam being generated by an electron-beam scanner. X-ray radiation from the region is detected, the x-ray radiation representing an attenuation of the imaging x-ray beam caused by the portion of the region. A first image of the portion of the region is generated based on the detected x-ray radiation. A characteristic of the portion of the region is determined from the generated first image. An input derived from the characteristic is generated, the input configured to cause a source of a treatment beam to modify a property of the treatment beam. The source of the treatment beam modifies a property of the treatment beam during the scanning period by providing the input to the source of the treatment beam.Linvention vise notamment à contrôler une propriété dun faisceau de traitement pendant une période de balayage. Une partie dune région est exposée à un faisceau de rayons X dimagerie pendant une période de balayage, le faisceau de rayons X dimagerie étant généré par un dispositif de balayage à faisceau délectrons. Une intensité de rayons X provenant de la région est détectée, ladite intensité de rayons X représentant une atténuation du faisceau de rayons X dimagerie provoquée par la partie de la région. Une première image de la partie de la région est générée sur la base de lintensité de rayons X détectée. Une caractéristique de la partie de la région est déterminée à partir de la première image générée. Une entrée dérivée de ladite caractéristique est générée, ladite entrée étant configurée de façon à amener une source de faisceau de traitement à modifier une propriété du faisceau de traitement. La source de faisceau de traitement modifie une propriété du faisceau de traitement pendant la période de balayage en communiquant lentrée à la source de faisceau de traitement.
