A system and related method to predict a projection silhouette or contour of an object (B) residing in a path of an X-ray beam of an X-ray imaging apparatus (100). The prediction is based on geometric data describing the orientation and/or position of the object relative to the detector (D) and the X-Ray source (XR) of the X-ray imager (100).L'invention concerne un système et un procédé associé pour prévoir une silhouette ou un contour de projection d'un objet (B) résidant dans un trajet d'un faisceau de rayons X d'un appareil d'imagerie par rayons X (100). La prévision est basée sur des données géométriques décrivant l'orientation et/ou la position de l'objet par rapport au détecteur (D) et la source de rayons X (XR) du dispositif d'imagerie à rayons X (100).
