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Determining an irradiation plan with the shortest possible irradiation time for a particle irradiation system
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Thilo Elsässer,Alexander Gemmel,Thomas Hansmann,Eike Rietzel
申请号:
DE102012208027
公开号:
DE102012208027B4
申请日:
2012.05.14
申请国别(地区):
DE
年份:
2013
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung (10) zum Bestimmen eines Bestrahlungsplans für eine Partikelbestrahlungsanlage (20). Dabei wird mit der Partikelbestrahlungsanlage (20) abhängig von dem Bestrahlungsplan ein Zielvolumen (6) innerhalb eines Untersuchungsobjekts (14; 18) mit einem Teilchenstrahl (16) bestrahlt. Der Strahlungsplan wird bestimmt, um die Energie des Teilchenstrahls (16) gemäß einer vorbestimmten Dosisverteilung in dem Zielvolumen (6) zu applizieren, wobei das Zielvolumen (6) und die vorbestimmte Dosisverteilung vorgegeben sind. Eine Bestimmung des Bestrahlungsplans wird zusätzlich eine Bestrahlungsdauer berücksichtigt, wobei der Bestrahlungsplan derart bestimmt wird, dass die Bestrahlungsdauer möglichst kurz ist.The invention relates to a method and a device (10) for determining an irradiation plan for a particle irradiation system (20). Depending on the irradiation plan, a target volume (6) within a subject (14; 18) is irradiated with a particle beam (16) by the particle irradiation system (20). The radiation plan is determined to apply the energy of the particle beam (16) according to a predetermined dose distribution in the target volume (6), the target volume (6) and the predetermined dose distribution being predetermined. A determination of the irradiation plan is additionally taken into account for an irradiation duration, the irradiation plan being determined such that the irradiation duration is as short as possible.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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