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一种微小卫星用芯片的筛选方法
专利权人:
中国人民解放军国防科学技术大学
发明人:
张育林,宋新,陈利虎,绳涛,赵勇,程云
申请号:
CN201310028660.6
公开号:
CN103091625B
申请日:
2013.01.25
申请国别(地区):
中国
年份:
2014
代理人:
吴贵明
摘要:
本发明提供了一种微小卫星用COTS芯片的筛选方法,包括以下步骤:抽选同一批次的芯片进行破坏性试验,破坏性试验用于评估芯片工艺和材料性能,以得到检测结果合格的芯片;将经破坏性试验的检测结果为合格的芯片进行可靠性筛选,可靠性筛选用于评估芯片使用寿命,以得到可应用于微小卫星的芯片。解决了现有技术中的筛选方法不能保障COTS芯片在航天领域应用的技术问题。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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