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一种磁共振偏中心成像二阶匀场方法
- 专利权人:
- 上海康达卡勒幅医疗科技有限公司
- 发明人:
- 裴孟超,姜小平,奚伟,张成秀,李建奇
- 申请号：
- CN201710005902.8
- 公开号：
- CN108272452A
- 申请日:
- 2017.01.05
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种磁共振偏中心成像二阶匀场方法,包括:1.3D双回波梯度回波数据采集及重建;2.定量计算三维B0场图;3.测量一阶匀场输出刻度;4.测量二阶匀场输出刻度;5.自动匀场计算;6.偏磁体中心的一阶匀场修正;7.匀场输出,通过步骤5和6最终计算得到的各匀场分量数值,并利用步骤3和4中得到的刻度值转换为匀场功放的输出值,实现偏磁体中心的二阶匀场。本发明消除或减小了来自于图像中有磁共振中心频率的误差、化学位移的影响、部分容积效应、图像上距离与物体实际距离的误差,匀场功率放大器输出的误差等原因造成的匀场效果不准确;有效地消除或减小了离磁体中心较远位置所受到的二阶以上的高阶不均匀项引起的误差。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
