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角層の収縮状態を測定することによる肌マイクロレリーフ評価法
专利权人:
SHISEIDO CO LTD
发明人:
KATSUTA YUJI,勝田 雄治,AOKI HIROFUMI,青木 宏文,MUGIKURA SHIGERU,麦倉 茂,SUGAWARA MISATO,菅原 美郷
申请号:
JP2011070959
公开号:
JP2012202969A
申请日:
2011.03.28
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To establish an evaluation method capable of evaluating a state of a microrelief more accurately than the conventional texture evaluation method by focusing attention on a skin microrelief structure and the function thereof.SOLUTION: The establishment of the evaluation method is by measuring a contracted state of a horny layer. The horny layer is a component of a microrelief, and it is possible to evaluate a state of the microrelief more accurately by measuring a contracted state of the horny layer.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】肌のマイクロレリーフの構造及びその機能に着目することにより、従来の肌理評価法よりも、より正確にマイクロレリーフの状態を評価することを可能にする評価法を確立することである。【解決手段】角層の収縮状態を測定することによる。角層はマイクロレリーフの構成要素であり、角層の収縮状態を測定することにより、より正確にマイクロレリーフの状態を評価することが可能になった。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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