PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray imaging device capable of improving measurement accuracy of X-ray phase contrast in an area distant from an optical axis in comparison with conventional X-ray imaging devices.SOLUTION: An X-ray imaging device includes: a diffraction grating for forming an interference pattern by diffracting the X rays diverged from an X-ray source； a shielding grating for shielding part of the interference pattern； a detector for detecting the X rays having passed through the shielding grating； and an angle changing means. The angle changing means changes an angle made by the diffraction grating, shielding grating, detector, and optical axis. The detector detects X rays in accordance with change in the angle made by the diffraction grating, shielding grating, detector, and optical axis by the angle changing means.【課題】 光軸から離れた領域におけるＸ線位相コントラストの計測精度を従来のＸ線撮像装置よりも向上させることが可能なＸ線撮像装置を提供する。【解決手段】 Ｘ線撮像装置は、Ｘ線源からの発散Ｘ線を回折することで干渉パターンを形成する回折格子と、干渉パターンの一部を遮蔽する遮蔽格子と、遮蔽格子を経たＸ線を検出する検出器と、角度可変手段とを備える。角度可変手段は、回折格子と遮蔽格子と検出器と、光軸とがなす角度を変化させる。また、検出器は、角度可変手段による回折格子と遮蔽格子と検出器と、光軸とがなす角度の変化に応じてＸ線の検出を行う。【選択図】 図３
