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一种基于等离子体表面波激发的痕量元素检测装置
专利权人:
大连理工大学
发明人:
李寿哲,白阳
申请号:
CN201720858640.5
公开号:
CN206960403U
申请日:
2017.07.17
申请国别(地区):
中国
年份:
2018
代理人:
李晓亮`潘迅
摘要:
本实用新型提供一种基于等离子体表面波激发的痕量元素检测装置,属于微量元素检测领域,包括等离子体激发源发生系统、雾化系统、光谱检测系统和冷却系统。工作气体从放电管的上游注入,表面波等离子体激励器的能量耦合区域产生等离子体,且产生的表面波等离子体能够延展至放电管出口端;待测液体样品经气动雾化装置处理后形成气相样品,气相样品由引入口通过石英引入管引入到表面波等离子体中,待测样品中的元素经表面波等离子体激发产生特征光谱,由光纤探头在光谱检测的观测窗口接收,并传送到光谱仪,计算机分析待测样品的特征激发谱线,实现对待测样品中痕量待测元素的定性和定量分析。本实用新型能够提高微波等离子体对气相样品的承受力,装置结构简单、操作方便。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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