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一种基于等离子体表面波激发的痕量元素检测装置
- 专利权人:
- 大连理工大学
- 发明人:
- 李寿哲,白阳
- 申请号：
- CN201720858640.5
- 公开号：
- CN206960403U
- 申请日:
- 2017.07.17
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2018
- 代理人:
- 李晓亮`潘迅
- 摘要：
- 本实用新型提供一种基于等离子体表面波激发的痕量元素检测装置，属于微量元素检测领域，包括等离子体激发源发生系统、雾化系统、光谱检测系统和冷却系统。工作气体从放电管的上游注入，表面波等离子体激励器的能量耦合区域产生等离子体，且产生的表面波等离子体能够延展至放电管出口端；待测液体样品经气动雾化装置处理后形成气相样品，气相样品由引入口通过石英引入管引入到表面波等离子体中，待测样品中的元素经表面波等离子体激发产生特征光谱，由光纤探头在光谱检测的观测窗口接收，并传送到光谱仪，计算机分析待测样品的特征激发谱线，实现对待测样品中痕量待测元素的定性和定量分析。本实用新型能够提高微波等离子体对气相样品的承受力，装置结构简单、操作方便。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
