An apparatus for turbid sample measurement comprising a plurality of light sources for illuminating a turbid sample target area with non-spatial structured light, a projection system for illuminating the turbid sample target area with spatial structured light, a sensor for collecting light from the turbid sample target area, and a processor to analyze the data captured by the sensor to yield scattering and absorption coefficients of the turbid sample. A method comprises illuminating the sample with spatial structured light, collecting light reflected from the sample at a number of wavelengths, illuminating the sample with non-spatial structured light, collecting light reflected from the sample at a number of wavelengths, and combining the measurements of the collected light to obtain the optical properties of the sample and/or the concentration of absorbing or fluorescent molecules. The wavelengths of the spatial and non-spatial light sources are preferably different.L'invention porte sur un appareil de mesure d'échantillon trouble qui comporte une pluralité de sources de lumière pour éclairer une zone cible d'échantillon trouble avec de la lumière non spatialement structurée, un système de projection pour éclairer la zone cible d'échantillon trouble avec de la lumière spatialement structurée, un capteur pour capter de la lumière provenant de la zone cible d'échantillon trouble et un processeur pour analyser les données capturées par le capteur afin d'obtenir des coefficients de diffusion et d'absorption de l'échantillon trouble. Un procédé consiste à éclairer l'échantillon avec de la lumière spatialement structurée, à capter de la lumière réfléchie par l'échantillon à un certain nombre de longueurs d'onde, à éclairer l'échantillon avec de la lumière non spatialement structurée, à capter la lumière réfléchie par l'échantillon à un certain nombre de longueurs d'onde et à combiner les mesures de la lumière captée afin d'obtenir les propriétés optiques de l'échantillon
