Es wird ein Verfahren (300) zum Ermitteln einer Systemfrequenz bei der MR-Bildgebung beschrieben. Bei dem Verfahren (300) wird ein Frequenzspektrum (s(f)) eines zu untersuchenden Bereichs (VOI) erfasst. Es wird eine Kostenfunktion (FOM) ermittelt, welche die Differenz zwischen einer zu optimierenden parametrisierten Modellfunktion (m(f)) mit zugeordneten Parametern (fi0, wi, ai) und dem erfassten Frequenzspektrum (s(f)) umfasst. Anschließend wird die Kostenfunktion (FOM) minimiert. Des Weiteren werden die dem ermittelten Minimum (min(FOM)) zugeordneten Parameter (fi0, wi, ai) der optimierten parametrisierten Modellfunktion (mopt(f)) ermittelt und die Systemfrequenz auf Basis der ermittelten Parameter (fi0, wi, ai) berechnet. Es wird ferner eine Systemfrequenz-Ermittlungseinrichtung (70) beschrieben. Überdies wird ein Magnetresonanzbildgebungssystem (61) beschrieben.It is a method (300) for determining a system frequency in the case described, the mr - imaging. In the method (300), a frequency spectrum (s (f)) of a region (voi) to be examined is recorded. It is a cost function (,) is determined, which the difference between a to be optimized, parameterized model function (m (f)) with associated parameters (fi0, wi, ai) and the detected frequency spectrum (s (f)) comprises. Subsequently, the cost function (,) is minimized. Furthermore, the the determined minimum (min (,)) associated parameter (fi0, wi, ai) the optimized parameterized model function (mopt(f)) is determined and the system frequency on the basis of the determined parameters (fi0, wi, ai) calculated. It is also a system frequency - detecting means (70) described. In addition, a magnet resonance image described relative to the system (61).
