光計測装置

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专利权人:

株式会社日立製作所

发明人:

木口 雅史,舟根 司,宇都木 契,鈴木 敦

申请号：

JP2010519706

公开号：

JP4972707B2

申请日:

2009.06.15

申请国别(地区):

JP

年份:

2012

代理人:

摘要：

Closely it is the infrared the fluorescent substance is used spectrum device. Topic: It observes without the optical fiber and making the electronic circuit the suffering inspection body contact, information of suffering inspection internal, making use of light. Solution expedient: The fluorescent substance of small-sized light weight contact is obtained in the suffering inspection body, fluorescent strength is measured at the position where it is far.蛍光体を用いた近赤外分光装置である。課題:光ファイバや電子回路を被検体に接触させることなく、被検体内の情報を、光を用いて観測する。解決手段:小型軽量の蛍光体を被検体に接触せしめ、離れた位置で蛍光強度を計測する。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/