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インピーダンス測定処理
专利权人:
インぺディメッド リミテッド
发明人:
ガウ、リッチェル リアンヌ
申请号:
JP2011537795
公开号:
JP2012509724A
申请日:
2009.11.27
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
In order to execute impedance measurement on the suffering inspection body, being the device which is used, the index where it possesses the plural electrodes, in order to make that at least several electrodes contact at least with the portion of the suffering inspection body possible the probe which is formed and, it decides one which was measured with the region where 1st electrode configuration is used 1st impedance value at least, uses 2nd electrode configuration and it decides one which was measured with this region 2nd impedance value at least, and, uses 1st and 2nd impedance value and the presence of abnormality or it showsThe processing system which it decides and, it is the device which is included.被検体上でインピーダンス測定を実行するため用いる装置であって、複数の電極を有し、少なくともいくつかの電極が被検体の少なくとも一部と接触することを可能にするよう構成されたプローブと、第1の電極コンフィギュレーションを使用してある部位で測定された少なくとも1つの第1のインピーダンス値を決定し、第2の電極コンフィギュレーションを使用してこの部位で測定された少なくとも1つの第2のインピーダンス値を決定し、そして、第1および第2のインピーダンス値を使用して異常の有無または程度を示す指標を決定する処理システムと、を含む装置である。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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