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多b值弥散张量成像采样方法
专利权人:
中国科学院深圳先进技术研究院
发明人:
刘伟,吴垠,刘新,郑海荣,邹超,戴睿彬,潘艳丽,张娜,谢国喜
申请号:
CN201010612331.2
公开号:
CN102008308B
申请日:
2010.12.29
申请国别(地区):
CN
年份:
2012
代理人:
摘要:
一种多b值弥散张量成像采样方法,包括以下步骤:在第一b值下单次扫描整个视野,采样获得第一b值下单次扫描信噪比及第一b值下单次扫描信号强度;根据第一b值下单次扫描信噪比及指定的第一b值下多次扫描信噪比计算得到第一b值下多次扫描次数;根据第一b值下单次扫描信噪比及第一b值下单次扫描信号强度计算得到第二b值下单次扫描信噪比;根据第二b值下单次扫描信噪比及指定的第二b值下多次扫描信噪比计算得到第二b值下多次扫描次数。上述多b值弥散张量成像采样方法,通过对第一b值实施单次预扫描及不同b值的信噪比遵循的关系,便可以自适应的选定各个b值实际需要的重复扫描次数,从而降低了总的采样次数,大大降低了采样的时间,提高了弥散张量成像的速度。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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